- Catalogue
- Microscopie et imagerie
- Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux
Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux Présentiel
Dernière mise à jour : 01/10/2025
- Description
- Objectifs de la formation
- Public visé
- Prérequis
- Modalités pédagogiques
- Moyens et supports pédagogiques
- Modalités d'évaluation et de suivi
- Formateurs
- Informations sur l'admission
- Informations sur l'accessibilité
- Inscription
Description
AXE 10 - Microscopie et imagerie
Environnement scientifique et technique de la formation
Microscopie électronique
Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux
PROGRAMME
- Cours (6,5 h) : principes de fonctionnement du MEB
- - Source d'électrons, optique électronique, images par balayage
- - Aperçu sur la technologie du vide
- - Interactions électrons-matière, électrons rétrodiffusés et secondaires
- - Détection des différents signaux et types d'images associées
- - Choix des conditions expérimentales et du type d'appareil en fonction des informations recherchées
Travaux pratiques (9,5 h)
- Alternance de cours (6,5 h) et de travaux pratiques (9,5 h) en sous-groupes de 3 stagiaires maximum avec 1 intervenant par sous-groupe. Tout au long de la formation, des exercices de mise en pratique et des points d'étape permettront au stagiaire d'évaluer son acquisition des connaissances. Un support papier, des fichiers au format PDF et une clé USB seront mis à disposition du stagiaire.
- - Préparation et observation d'échantillons modèles : métal, céramique, polymère, composite, sous forme massive, brute ou polie, de poudre et en couche mince
- - Travaux pratiques sur l'un ou l'autre des appareils choisis en fonction du type d'échantillon et des informations recherchées
- - Notions de microanalyse X par EDS
Programme détaillé téléchargeable sur notre site internet.
Objectifs de la formation
- Connaître les principes de la microscopie électronique à balayage en science des matériaux
- Comprendre la formation de l'image en MEB et les paramétrages de base
- Savoir choisir les détecteurs adaptés pour former une image
- Savoir préparer et observer des matériaux simples
- Savoir interpréter les images en fonction du type d'échantillon et des paramètres d'observation retenus
- Savoir compléter l'interprétation des images en utilisant la microanalyse X
Public visé
Chercheurs, ingénieurs et techniciens amenés à utiliser le MEB ou interpréter des images de MEB pour la science des matériaux.
Afin d'adapter le contenu du stage aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable sur notre site internet devra être complété et renvoyé au moment de l'inscription.
Prérequis
Modalités pédagogiques
Moyens et supports pédagogiques
Modalités d'évaluation et de suivi
Formateurs
Informations sur l'admission
Informations sur l'accessibilité
M'inscrire à la formation
- Catégorie : Microscopie et imagerie
- Durée : 17h
-
Prix : 1 224 € Net de taxePrix INTRA : Nous consulter
-
Satisfaction :
★★★★★★★★★★
- Taux de réussite : - %
- Télécharger le programme
Inscription rapide et flexible
Prochaines Sessions
-
Aucune session inter-entreprises n'est actuellement disponible pour cette formation.
Contactez-nous pour organiser une session intra-entreprises ou consultez Notre offre de formation.
Dans la même catégorie
- All-optical Control of Brain Functioning with Optogenetics and Multi-Photon Microscopy - ENGLISH Course Présentiel
- Analyse d'images sur QuPath : des bases aux méthodes avancées (Machine et Deep Learning) pour coupes histologiques, et autres larges images 2D Présentiel
- Analyse d’image : automatisation sous ImageJ/FIJI avec appel des méthodes de segmentation utilisant le Machine Learning et le Deep Learning (niveau avancé) Présentiel
- Aspects fondamentaux de la microscopie électronique en transmission Présentiel
- Atelier de microscopie confocale Présentiel
Catalogue de formation propulsé par Dendreo,
logiciel spécialisé pour les organismes de formation