Microanalyse élémentaire par spectrométrie de RX à dispersion d’énergie (EDS) Présentiel
Dernière mise à jour : 01/10/2025
Description
AXE 7 - Caractérisation des matériaux
Environnement scientifique et technique de la formation
Microanalyse et analyse de surface
Microanalyse élémentaire par spectrométrie de RX à dispersion d'énergie (EDS)
ORGANISATION : 24 h, 5 stagiaires maximum, Lieux accessibles aux PMR
MÉTHODES PÉDAGOGIQUES : Liste des ressources pédagogiques remises aux participants à l'issue de la formation : supports papier et logiciels (freeware). Tout au long de la formation, des cas pratiques ou exercices corrigés permettront à l'apprenant d'évaluer l'acquisition des compétences.
À L'ISSUE DE LA FORMATION : Evaluation de la formation par les stagiaires, Envoi d'une attestation de formation.
DATE DU STAGE : Réf. 25 400 : du mardi 04/11/25 à 13:30 au vendredi 07/11/25 à 12:30.
PROGRAMME : Les cours alternent TD ou TP.
- Cours (10h) :
- Etude des phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre le faisceau électronique et la matière
- Microanalyse EDS-X : analyses qualitative, semi-quantitative et quantitative avec standards (méthodes de calcul corrections) ; Limites de la méthode d'analyse
- Etudes de cas : les stagiaires peuvent apporter leurs échantillons (préparés)
- Travaux Dirigés (3h) :
- Simulation des trajectoires électroniques par la méthode de Monte-Carlo
- Traitement de données issus de cas réels afin que l'utilisateur puisse rechercher les conditions optimales de mesure
- Travaux Pratiques (11h) : MEB (10% du temps) et Microanalyse EDS (90% du temps)
- Microscopie électronique à balayage (canon, détecteurs, mise en œuvre…)
- Fonctionnement du microscope électronique à balayage
- Imagerie en électrons secondaires (SE) et rétrodiffusés (BSE)
- Recherche et caractérisation de phase : optimisation des paramètres d'acquisition, traitement des spectres, analyses qualitatives
- Analyses semi-quantitatives
- Analyses quantitatives (avec témoins)
- Analyses des éléments légers (O,… )
- Cartographies élémentaires et spectrales : traitement des données
EQUIPEMENT : Microscope électronique à balayage ZEISS Ultra+ à canon à effet de champ doté de systèmes de microanalyses chimique fonctionnant en dispersion d'énergie et par diffraction d'électrons rétrodiffusés (EDS & EBSD Bruker).
Objectifs de la formation
- Acquérir les connaissances de base théoriques et pratiques nécessaires à l'utilisation d'un système de microanalyse X fonctionnant en dispersion d'énergie (EDS)
- Déterminer les paramètres d'analyse pertinents pour le matériau étudié
- Mettre en œuvre les études de caractérisation pour les trois niveaux d'analyses : qualitative, demi-quantitative ou quantitative
- Interpréter les résultats et connaître les limites de la méthode